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== API ==
 
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焼きなまし法による角度探索を行います。（繰り返し数: 10×100）
 
  extern void lFETOrientationSearchByAnnealing(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);
 
  extern void lFETOrientationSearchByAnnealing(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);
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[[FETOrientationSearchByAnnealing]]では現実装においては下記のlFETOrientationSearchByRigidSubsetCoreを使用しています。<br>
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==== RigidSubsetCore ====
 
  extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);
 
  extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);
 
  extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore_Search(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* , int );
 
  extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore_Search(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* , int );
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inに使用するメモリを確保します。（nはFETファイル数）
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationDataSetMemoryAllocate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int n, int mode);
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationDataSetMemoryAllocate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int n, int mode);
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inに使用するパラメータをランダムに設定します。
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationRandomParaSet(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationRandomParaSet(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
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modeによりパラメータの設定方法を選択できます。
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<th>設定方法</th>
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<td>0</td>
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<td>初期パラメータの設定</td>
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<td>1</td>
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<td>generate difference on minimization process: completely random（in->dImageに乱数が格納される）</td>
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<td>それ以外</td>
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<td>generate difference on minimization process</td>
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in->cUs, in->dUsからLを算出し、in->cU, in->dUへ格納します。
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationLcalculate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationLcalculate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
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modeにより算出方法を選択できます。
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<th>mode</th>
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<th>算出方法</th>
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<td>0</td>
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<td>cUsの組み合わせによる総和をcUへ格納</td>
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<td>1</td>
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<td>上記に加え、dUsとcUsのin->dImage成分との差異をdUへ格納</td>
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in->dAngle, in->dPos, in->dUs, in->dImageからin->cAngle, in->cPos, in->cUsの更新を行います。
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationOverWrite(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
 
  extern void lFETsimultaneousMinimizationOverWrite(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);
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2015年3月24日 (火) 08:22時点における版

DataManip/transform/src/lFETOrientationSearchByAnnealingはFETOrientationSearchByAnnealingのためのAPI です。

定数

構造体

typedef struct lFETOrientationSearchByAnnealingInfo{
	mrcImage* InMS;
	FILE* InFL;
	FILE* InML;
	int fnum;
	int flagInML;
	double ITemp;
	int as1;
	double as2;
	int as3;
	FILE* Out;
	int mode;
}lFETOrientationSearchByAnnealingInfo;

typedef struct lFETsimultaneousMinimizationDataSet{
	mrcImage* map;
	int dImage;
	unsigned* sflag; 
	double* cAngle[3];  //3 means euler angle set
	double dAngle[3];   //
	int** cPos[3];      //3  x, y, z
	int* dPos[3];       // 
	double** cUs;
	double* dUs;
	double cU;
	double dU;
	double* cUt;
	lCommonLineCalculationInfo* clc;
	int n, z;
	int mode;
}lFETsimultaneousMinimizationDataSet;

typedef struct lFETOrientationSearchByAnnealingDataSet{
	int fnum;
	mrcImage* FETs;
	mrcImage* maps; 
	double** angles;
	double** CPVtable;
	int current;
	double angle[3];
	double* CPVtemp;
	int mode;
}lFETOrientationSearchByAnnealingDataSet;

API

角度探索

焼きなまし法

焼きなまし法による角度探索を行います。（繰り返し数: 10×100） 

extern void lFETOrientationSearchByAnnealing(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);

FETOrientationSearchByAnnealingでは現実装においては下記のlFETOrientationSearchByRigidSubsetCoreを使用しています。

RigidSubsetCore

extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore(lFETOrientationSearchByAnnealingInfo info, int mode);
extern void lFETOrientationSearchByRigidSubsetCore_Search(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* , int );


inに使用するメモリを確保します。（nはFETファイル数） 

extern void lFETsimultaneousMinimizationDataSetMemoryAllocate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int n, int mode);


inに使用するパラメータをランダムに設定します。 

extern void lFETsimultaneousMinimizationRandomParaSet(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);

modeによりパラメータの設定方法を選択できます。

mode 設定方法
0 初期パラメータの設定
1 generate difference on minimization process: completely random（in->dImageに乱数が格納される）
それ以外 generate difference on minimization process


in->cUs, in->dUsからLを算出し、in->cU, in->dUへ格納します。 

extern void lFETsimultaneousMinimizationLcalculate(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);

modeにより算出方法を選択できます。

mode 算出方法
0 cUsの組み合わせによる総和をcUへ格納
1 上記に加え、dUsとcUsのin->dImage成分との差異をdUへ格納


in->dAngle, in->dPos, in->dUs, in->dImageからin->cAngle, in->cPos, in->cUsの更新を行います。 

extern void lFETsimultaneousMinimizationOverWrite(lFETsimultaneousMinimizationDataSet* in, int mode);



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