走査型透過電子顕微鏡のコントラストは、現在は、ある一定の角度に散乱した電子の散乱の違いにより生じる散乱コントラストである。そのため、元素の違い、もしくは、密度の違いによりコントラストを生じる。
将来、デバイスが改良され、高速化されれば、角度分布による散乱の違いによる様々な元素マッピングが可能である。
